OTDR 如何處理實際測試中的盲點(diǎn)
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- 2018-07-18
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天津文豪科技發(fā)展有限公司
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一系列“盲點(diǎn)”通常被稱為盲區(qū),導(dǎo)致有源連接器和機(jī)械連接器等特征點(diǎn)的反射導(dǎo)致 OTDR 接收器飽和。
光纖中的盲區(qū)分為事件盲區(qū)和衰減盲區(qū):有源連接器的介入引起的反射峰,從反射峰起點(diǎn)到接收端飽和峰的長度距離,為稱為事件盲區(qū),光纖中的反射峰是由有源連接器介入引起的,從反射峰的起點(diǎn)開始稱為衰減盲區(qū)。對于 OTDR,盲區(qū)越小越好。盲區(qū)會隨著脈沖加寬寬度的增加而增加,增加脈沖寬度的同時增加了測量長度,同時也增加了測量盲區(qū),所以在測試光纖時,光纖和相鄰事件點(diǎn)的測量OTDR 附件應(yīng)使用窄脈沖,而寬脈沖應(yīng)用于測量光纖的遠(yuǎn)端。